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電纜光纜絕緣護(hù)套低溫卷繞試驗裝置

簡要描述:電纜光纜絕緣護(hù)套低溫卷繞試驗裝置符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法:通用試驗方法—低溫試驗》、JB∕T4278.11-2011、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。適用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能,與低溫箱配套使用。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-20
  • 訪  問  量:1128
詳情介紹

KTR007電纜光纜絕緣護(hù)套低溫卷繞試驗裝置 
一、參數(shù)如下 
符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法:通用試驗方法—低溫試驗》、JB∕T4278.11-2011、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。適用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能,與低溫箱配套使用。 
1、低溫卷繞試樣直徑:Ф2.5~Ф12.5mm 
2、卷繞棒直徑:Ф4.0-Ф50.0mm共12支(可訂制) 
3、過線套:Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm各二件(可訂制) 
4、試樣纏繞圈數(shù):2~10圈 
5、材質(zhì):SUS304不銹鋼 
6、重量約:20KG 
二、電纜光纜絕緣護(hù)套低溫卷繞試驗裝置試驗方法 
1、本試驗一般適用于外徑12.5mm及以下的圓形絕緣線芯及不能制備啞鈴試件的扇形絕緣線芯。若有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,試驗應(yīng)在大尺寸絕緣線芯上進(jìn)行。否則,大尺寸絕緣線芯應(yīng)進(jìn)行低溫拉伸試驗。符合GB/T2951.14-2008和GB/T2951.4-1997。 
2、取樣和試樣制備 
從每個被試絕緣線芯上取兩根適當(dāng)長度的試樣。如有外護(hù)層,應(yīng)除去后才能作為試樣。 
3、試驗儀器 
本試驗推薦采用的試驗設(shè)備參見圖1及注釋。它基本上由一旋轉(zhuǎn)軸和試樣導(dǎo)向裝置組成。也可使用實際上與圖1設(shè)備相當(dāng)?shù)牧硪环N單軸設(shè)備。此試驗設(shè)備在試驗前及試驗過程中應(yīng)放置在低溫箱內(nèi)。 
4、試驗步驟 
試樣應(yīng)按圖1所示固定在設(shè)備上。 
裝好試樣的設(shè)備應(yīng)在規(guī)定溫度的低溫箱內(nèi)放置不少于16h。16h的冷卻時間包括冷卻設(shè)備所必需的時間。 
如果試驗設(shè)備已預(yù)冷,只要試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗溫度。則允許縮短冷卻時間,但不得少于4h。如果試驗設(shè)備和試樣均已預(yù)冷,則將每個試樣固定在試驗設(shè)備上后冷卻1h就足夠了。 
規(guī)定的冷卻時間結(jié)束后,旋轉(zhuǎn)試棒,使試樣整齊地在試棒上卷繞成緊密的螺旋。如果是扇形試樣,則試樣的圓形“背部”應(yīng)與試棒接觸。 
然后,將試樣保持在試棒上,使其恢復(fù)到接近環(huán)境溫度。 
5、試驗條件 
試驗溫度按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。 
試棒的直徑應(yīng)為試樣直徑的4~5倍 
試棒應(yīng)以約每5s轉(zhuǎn)一圈的速率勻速旋轉(zhuǎn),卷繞圈數(shù)按下表規(guī)

電纜光纜絕緣護(hù)套低溫卷繞試驗裝置*,歡迎電線電纜廠客戶。

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